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고려대학교 공학기술연구소 공학기술연구소보 연구원 활동 : 발표논문요약 < 전기공학분야 >
연구원 활동 : 발표논문요약 < 전기공학분야 >
AC Hot - carrier Effects under Very Fast Transient Stressing and its Impact on 16 M DRAM Functionality
(Yoonjong Huh) , (Seongjeen Kim) , (Yungkwon Sung)
고려대학교 공학기술연구소 1994.03
공학기술연구소보 1권 65-66(2pages)
UCI I410-ECN-0102-2009-530-007993323
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