닫기
18.97.14.89
18.97.14.89
close menu
일렉트렛 응용기술 ( ORAL 발표 H ) : 질화갈륨 박막의 유전 상수
Dielectric constant of GaN thin films
김혜림(Hye Rim Kim),추장희(Jagn Hee Chu)
UCI I410-ECN-0102-2008-560-001245417
This article is 4 pages or less.
×