닫기
216.73.216.153

지식을 담다. 지식을 나누다 KISS

Ai 검색 소개
Ai 검색 소개
상세검색
Ai 검색 소개
216.73.216.153
로그인
회원가입
close menu
대한피부과학회 프로그램북 Time-of-Flight Secondary-Ion-Mass-Spectroscopy (ToF SIMS) Imaging of Skin
Time-of-Flight Secondary-Ion-Mass-Spectroscopy (ToF SIMS) Imaging of Skin
( Kap Sok Li ) , ( Won Woo Choi ) , ( Dong Hun Lee ) , ( Chong Won Choi ) , ( Tae Geol Lee ) , ( Dae Won Moon ) , ( Jin Ho Chung )
대한피부과학회 2007.10
프로그램북 59권 2호 205-205(1pages)
UCI I410-ECN-0102-2008-510-002820327
인용하기 URL 복사 보관함 담기
이 자료는 4페이지 이하의 자료입니다.
논문명
×