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한국품질경영학회
The Asian Journal on Quality
Online Experts Screening the Worst Slicing Machine to Control Wafer Yield via the Analytic Hierarchy Process
Online Experts Screening the Worst Slicing Machine to Control Wafer Yield via the Analytic Hierarchy Process
( Chin Tsai Lin ) , ( Che Wei Chang ) , ( Cheng Ru Wu ) , ( Huang Chu Chen )
한국품질경영학회
2006.06
The Asian Journal on Quality
7권 2호
141-156(16pages)
UCI
I410-ECN-0102-2009-320-000886098
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Silicon Wafer Slicing
Modified Delphi Method
Analytical Hierarchy Process
EWMA Control Chart
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