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고분해능 투과전자현미경을 이용한 신소재 원자 배열 분석
Atomic Arrangement Characterization of New Materials Using High Resolution Transmission Electron Microscopy
허윤 ( Yoon Huh ) , 정종석 ( Jong Seok Jeong ) , 이정용 ( Jeong Yong Lee )
UCI I410-ECN-0102-2009-580-002452167
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