학술대회 논문집 : 초전도,자성체재료 (3) ; 고온 초전도 트랜지스터의 채널 식각 두께에 따른 임계 특성 자동 측정장치 구축

Poster Session : Implementation of Automatic measurement system for a Change of channel etching thickness with a HTS Transistor

현종옥 ( Hyeon Jong Og ) , 강형곤 ( Kang Hyeong Gon ) , 고석철 ( Go Seog Cheol ) , 한병성 ( Han Byeong Seong )

한국전기전자재료학회 2003.07

한국전기전자재료학회 하계학술대회 논문집 vol. 2003 561-564(4pages)

UCI I410-ECN-0102-2009-560-002471077

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