학술대회 논문집 : 반도체재료 (1) ; 4탐침 측정기술이 비저항 측정 정밀 정확도에 미치는 영향

Poster Session : The Effects of the Four Point Probe Measurement Technique on the Precision and Accuracy in Electrical Resistivity Measurements

강전홍 ( Kang Jeon Hong ) , 유광민 ( Yu Gwang Min ) , 김한준 ( Kim Han Jun ) , 한상옥 ( Han Sang Og ) , 김종석 ( Kim Jong Seog )

한국전기전자재료학회 2003.07

한국전기전자재료학회 하계학술대회 논문집 vol. 2003 267-269(3pages)

UCI I410-ECN-0102-2009-560-002471799

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