Offset 구조 Poly-Si TFT 의 Negative Bias Stress 효과

Negative Bias Stress Effect with Offset Structure in Poly-Si TFT's

이제혁(J . H . Lee), 변문기(M . G . Byun), 임동규(D . G . Lim), 조봉희(B . H . Cho), 김영호(Y . H . Kim)

한국전기전자재료학회 1998.01

한국전기전자재료학회 추계학술대회논문집 vol. 1998 141-144(4pages)

UCI I410-ECN-0102-2008-560-001247219

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