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한국전기전자재료학회 한국전기전자재료학회 추계학술대회논문집 주사형 맥스웰 응력 현미경을 이용한 박막의 Nanometer - scale 이미지
주사형 맥스웰 응력 현미경을 이용한 박막의 Nanometer - scale 이미지
Nanometer-scale Imaging in Thin Films by Scanning Maxwell - stress Microscopy
신훈규(Hoon Kyu Shin), 유승엽(Seung Yeop Yoo), 권영수(Young Soo Kwon)
한국전기전자재료학회 1998.01
한국전기전자재료학회 추계학술대회논문집 1998권 133-136(4pages)
UCI I410-ECN-0102-2008-560-001247239
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