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216.73.217.86
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온도변화에 따른 백금 실리사이드 - 엔 실리콘 접합의 전자터널링 특성
Electron Tunneling Characteristics of PtSi-nSi Junctions accoding to Temperature Variations
장창덕(Chang Dug Jang), 이정석(Jung Suk Lee), 이광우(Kwang Woo Lee), 이용재(Yong Jae Lee)
UCI I410-ECN-0102-2008-560-001249617
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