신경망을 이용한 보이드 결함에 의한 열화진단 - 전기전자재료학회논문지 - 한국전기전자재료학회 - KISS

본문 바로가기

2026 1학기 온라인 특강 바로가기

오늘 하루 이 창을 열지 않음

216.73.217.86

회원가입
로그인
고객센터
한국어 ENG

Ai 검색 소개

Ai 검색 소개

검색어

상세검색

216.73.217.86

한국어 ENG

고객센터
AI 검색 소개

한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 신경망을 이용한 보이드 결함에 의한 열화진단

KCI 후보

신경망을 이용한 보이드 결함에 의한 열화진단

Degradation Diagnosis by Void Defects Using a Neural Network

최재관 , 김성홍 , 김재환 ( Jae Kwan Choi , Sung Hong Kim , Jae Hwan Kim )

한국전기전자재료학회 1998.10

전기전자재료학회논문지 11권 10호 940-946(7pages)

UCI I410-ECN-0102-2008-560-001250283

더보기

인용하기 URL 복사 보관함 담기

초록

키워드

목차

참고문헌 (0)

[자료제공 : 네이버학술정보]

인용하기

KOR ENG

인용형식

저자명 년도 논문명 간행물명 권호 쪽수

저장형식

저장형식

보관함 담기

선택하신 개의 자료를

보관함

에 담습니다.

KISS 콘텐츠를 사전 허가 없이 무단으로 크롤링 및 복제, 배포할 경우 민형사상 책임을 물을 수 있습니다.

개인정보취급방침

(10881) 경기도 파주시 회동길 230 한국학술정보(주)

고객센터 080-500-3181

대표이사 채종준

사업자등록번호 111-81-26181

통신판매업신고 파주-1250호

개인정보관리책임자 조동범

패밀리사이트

북토리

스탑북

Copyright KISS. All rights reserved. Ver. 1.0.6.7

LOGIN

기관대표계정

소속기관에서 구독 중인 경우, 기관대표계정으로 인증 가능합니다.
(계정 정보는 소속 기관 담당자에게 문의)

ID

password

회원가입 아이디/비밀번호 찾기

or

네이버로그인

카카오로그인

구글로그인

상세검색

˙ 검색어

Keyword

select

select

˙ 주제분류

전체

인문학

사회과학

자연과학

공학

의약학

농수해양학

예술체육학

복합학

˙ 발행연도

전체 최근 1년

직접입력

search year ~ search year

˙ 서지자료

다운로드가 불가하고 서지정보만 제공하는 자료

제외 포함

×