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한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 신경망을 이용한 보이드 결함에 의한 열화진단

Candidate

신경망을 이용한 보이드 결함에 의한 열화진단

Degradation Diagnosis by Void Defects Using a Neural Network

최재관 , 김성홍 , 김재환 ( Jae Kwan Choi , Sung Hong Kim , Jae Hwan Kim )

한국전기전자재료학회 1998.10

전기전자재료학회논문지 vol. 11 iss. 10 940-946(7pages)

UCI I410-ECN-0102-2008-560-001250283

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