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KCI 후보
고에너지 비소 이온주입후 2단계 열처리시 2차결함에 대한 연구
A Study on Secondary Defects in Silicon after 2-step Annealing of the High Energy As lon Implanted Silicon
윤상현 , 곽계달 ( Sahng Hyun Yoon , Kae Dal Kwack )
UCI I410-ECN-0102-2008-560-001250501
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