Candidate
간섭방법을 이용한 비정질 As40Ge10S35Se15 박막에서의 광유기 이방성 크기 측정
Estimation of the Anisotropy Magnitude in Amorphous As40Ge10S35Se15 Thin Films by an Interference Method
한국전기전자재료학회
1998.09
