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18.97.14.80
18.97.14.80
Candidate
고농도 붕소가 도핑된 실리콘 웨이퍼에서의 산소석출에 관한 연구
A Study on Oxygen Precipitation in Heavily Boron Doped Silicon Wafer
윤상현 , 곽계달 ( Sahng Hyun Yoon , Kae Dal Kwack )
UCI I410-ECN-0102-2008-560-001250652
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