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한국전기전자재료학회 E²M-전기 전자와 첨단 소재 Large Shapiro Steps and Wide Junction Behavior in HTS Josephson Junctions at Nitrogen Temperatures

Large Shapiro Steps and Wide Junction Behavior in HTS Josephson Junctions at Nitrogen Temperatures

( C . Weber , A . M . Klushin , M . Darula , R . Seerad , W . Prusseit , H . Kohlstedt )

한국전기전자재료학회 1998.10

E²M-전기 전자와 첨단 소재 vol. 11 iss. 10 178-178(1pages)

UCI I410-ECN-0102-2008-560-001251184

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