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한국전기전자재료학회 E²M-전기 전자와 첨단 소재 Large Shapiro Steps and Wide Junction Behavior in HTS Josephson Junctions at Nitrogen Temperatures
Large Shapiro Steps and Wide Junction Behavior in HTS Josephson Junctions at Nitrogen Temperatures
( C . Weber , A . M . Klushin , M . Darula , R . Seerad , W . Prusseit , H . Kohlstedt )
한국전기전자재료학회 1998.10
E²M-전기 전자와 첨단 소재 11권 10호 178-178(1pages)
UCI I410-ECN-0102-2008-560-001251184
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