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18.97.14.88
18.97.14.88
ECR plasma 장치에서 Si 의 식각각도 조절
Profile control of silicon etching in ECR plasma
윤민희 , 남기석 , 서성모 , 서문석 , 안명환 , 이기방 ( M . H . Yun , K . S . Nahm , S . M . Seo , M . S . Seo , M . H . An , K . B . Lee )
UCI I410-ECN-0102-2009-570-007361165
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