SCIE
SCOPUS
복결정 X 선 회절 방법에 의한 CdTe , CdZnTe 웨이퍼의 결정성 분석
Evaluation of the Crystalline Quality of Cdte and CdZnTe with a Double Crystal X-ray Diffraction Technique
대한금속재료학회
1991.10
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