본문 바로가기
2026 1학기 온라인 특강 바로가기
오늘 하루 이 창을 열지 않음
닫기
216.73.217.86
회원가입
로그인
고객센터
한국어
ENG
전체
제목
저자명
간행물명
발행기관명
검색어
상세검색
216.73.217.86
한국어
ENG
로그인
회원가입
고객센터
AI 검색 소개
한국전기전자재료학회
전기전자재료학회논문지
t - ws 고장 검출을 위한 테스트 방법의 개선
t - ws 고장 검출을 위한 테스트 방법의 개선
Improvement of Test Method for t - ws Fault Detect
김철운 , 김영민 , 김태성 ( Cheol Woon Kim , Young Min Kim , Tae Sung Kim )
한국전기전자재료학회
1997.01
전기전자재료학회논문지
10권 4호
349-354(5pages)
UCI
I410-ECN-0102-2008-560-002001937
미리보기
₩ 5,500
더보기
인용하기
URL 복사
보관함 담기
미리보기
초록
expand_more
키워드
expand_more
목차
expand_more
참고문헌 (
0
)
expand_more
[자료제공 : 네이버학술정보]
인용하기
KOR
ENG
인용형식
APA
MLA
Chicago
IEEE
Vancouver
ACS
Harvard
저자명
년도
논문명
간행물명
권호
쪽수
저장형식
TXT
Refworks
Mendeley
EndNote
Excel
저장형식
저장하기
보관함 담기
선택하신
개의 자료를
보관함
에 담습니다.
LOGIN
기관대표계정
소속기관에서 구독 중인 경우, 기관대표계정으로 인증 가능합니다.
(계정 정보는 소속 기관 담당자에게 문의)
ID
password
로그인
회원가입
아이디/비밀번호 찾기
or
상세검색
˙ 검색어
All
전체
제목
저자명
간행물명
발행기관명
키워드
초록
Keyword
AND
OR
NOT
select
전체
제목
저자명
간행물명
발행기관명
키워드
초록
select
˙ 주제분류
전체
인문학
사회과학
자연과학
공학
의약학
농수해양학
예술체육학
복합학
˙ 발행연도
전체
최근 1년
직접입력
search year
~
search year
˙ 서지자료
다운로드가 불가하고 서지정보만 제공하는 자료
제외
포함
×
예
아니오
