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한국전기전자재료학회> Journal of Electrical and Electronic Materials> The Experimental Observation of the Stress Current and Transient Current in Thin Silicon Oxide

The Experimental Observation of the Stress Current and Transient Current in Thin Silicon Oxide

Chang Soo Kang
  • : 한국전기전자재료학회
  • : Journal of Electrical and Electronic Materials 3권2호
  • : 연속간행물
  • : 1997년
  • : 91-99(9pages)

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I410-ECN-0102-2008-560-001999978

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  • : 공학분야  > 전기공학
  • :
  • :
  • : 기타
  • :
  • :
  • : 학술지
  • : 연속간행물
  • : 1995-1997
  • : 35


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발행기관 : 한국전기전자재료학회 간행물 : Journal of Electrical and Electronic Materials 3권 2호 발행 연도 : 1997 페이지 : pp. 78-83 (6 pages)

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발행기관 : 한국전기전자재료학회 간행물 : Journal of Electrical and Electronic Materials 3권 2호 발행 연도 : 1997 페이지 : pp. 84-90 (7 pages)

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6The Experimental Observation of the Stress Current and Transient Current in Thin Silicon Oxide

저자 : Chang Soo Kang

발행기관 : 한국전기전자재료학회 간행물 : Journal of Electrical and Electronic Materials 3권 2호 발행 연도 : 1997 페이지 : pp. 91-99 (9 pages)

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7Approximate Solution of the Dispersion Equation for a Dielectric Slab Waveguide

저자 : Young Kyu Choi , Gwiy Sang Chung

발행기관 : 한국전기전자재료학회 간행물 : Journal of Electrical and Electronic Materials 3권 2호 발행 연도 : 1997 페이지 : pp. 100-107 (8 pages)

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발행기관 : 한국전기전자재료학회 간행물 : Journal of Electrical and Electronic Materials 3권 2호 발행 연도 : 1997 페이지 : pp. 108-113 (6 pages)

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발행기관 : 한국전기전자재료학회 간행물 : Journal of Electrical and Electronic Materials 3권 2호 발행 연도 : 1997 페이지 : pp. 114-120 (7 pages)

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